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基本信息(Basic Information)

设备名称(Apparatus)

散射特性测试教学演示及科研平台

厂商&型号(Company & Model)

测威科技

开放限制(Limited to)

对外开放(No Limitaion, Accessible to ALL)

使用类型(Operated by)

管理员操作(Administrator)

收费类型(Charging by)

计时计件(Time & Events)

1.概述

散射特性测试教学演示及科研平台是一种具备高分辨率二维成像能力的小型测量雷达,用于对小型目标或大型装备的局部区域进行快速、精确的散射源分布测量,可快速识别及定位被测目标或区域的隐身缺陷部位,并评估缺陷部位对隐身能力影响。

散射特性测试教学演示及科研平台由仪表系统、测试前端系统、机械扫描系统、主控及数据处理计算机、软件系统和测试辅助设备组成。雷达扫描成像测试演示平台可在与地面平行、不同高度的直线上按设定的位置参数完成扫描测试。

2.功能特色

  • 目标一维成像、二维SAR成像、二维ISAR成像(需配合转台)原理演示、目标测试

  • 目标近场散射测试演示、测试

  • 目标散射源分选、重构RCS的演示

  • 吸波材料反射率测试

  • 专用雷达系统功能验证

3.主要性能指标:

  • 工作频率:4~18GHz

  • 系统测试距离覆盖范围:3m~60m(具体需要根据不同距离配置功率放大器)

  • 极化方式:VV、HH

  • 雷达俯仰角度范围:±20°

  • 成像动态范围:≥60dB

  • 最大可测目标尺寸:1/2.3测试距离(独立目标尺寸或大型目标上的局部区域尺寸)

  • 成像分辨率:4.5cm@4GHz带宽

  • 测试重复性:±0.3dB

  • 水平扫描行程:1.8m

4.测试服务

散射特性测试教学演示及科研平台具有雷达散射截面测量功能、成像功能,拥有丰富的硬件接口与灵活通用的软件平台,可为多种应用场合下的雷达测试与成像系统搭建提供基础型通用化平台,满足多种场合下的雷达特性测试需要。

  • 目标一维成像、二维SAR成像、二维ISAR成像

  • 近场测试外推远场RCS技术,扩展用户测试范围

  • 射频伪装、隐身织物测量

  • 微波吸波材料测量和无损检测

  • 雷达系统验证

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