�����豸
΢���������������豸 ����������λ�ã���ҳ > ΢���������������豸

    
 
   ������������ϵͳ(power device measurement) ��Ƭ���ʲ���ϵͳ(load pull)

    

   ������ϻ�ϵͳ(transistor aging system ) ̨����(profile meter)

   

    ԭ������΢��(AFM) ɨ�������΢����SEM��

    

     ���������ǣ�infra scope�� ��Ƭ����cutting��

    

    ����������ǿԭ�Ӳ�����PEALD�� ����������̨��electron beam evaporation��

    

    ̽��̨�Ͱ뵼����������ǣ�Probe and semiconductor analyzer �� 


΢���������������豸 ������������ϵͳ(power device measurement) ��Ƭ���ʲ���ϵͳ(load pull) ������ϻ�ϵͳ(transistor aging system ) ̨����(profile meter) ԭ������΢��(AFM) ɨ�������΢����SEM�� ΢���������������豸   ���������ǣ�infra scope�� ��Ƭ����cutting�� ����������ǿԭ�Ӳ�����PEALD�� ����������̨��electron beam evaporation��    ̽��̨�Ͱ뵼����������ǣ�Probe and semiconductor analyzer �� �ߵ��º潺��  

         

             ��̻�                      �Ӵ�ʽ�����̻�

        

                  ������ֱд��̻�

      

Design & Support ����֧�֣�����������
Baidu
map